產品介紹
W5型全譜光譜分析儀為直讀式光譜儀,擁有16項專利技術,是目前比較成熟的材料檢測儀器,具有分析速度快、準確、檢測下限低等特點,而且可以對C、P、S、N等非金屬元素進行檢測。該光譜儀采用光學CMOS檢測器,光譜范圍覆蓋從低含量到高含量元素的全部典型材料,它都能準確、可靠的分析。公司擁有多年的光譜分析儀生產經驗,根據用戶對不同材料、不同檢測環境的要求,設計了這款多功能、更具性價比的全譜直讀光譜儀,可滿足金屬制造、加工業以及金屬冶煉用于質量監控、材料牌號識別、材料研究和開發等領域。
八大技術優勢
一、帕邢-龍格結構凹面光柵,全譜覆蓋,可滿足全元素的檢測,直射式光學技術及MgF材質的光學器件,保證紫外區域的性能。
二、全數字化智能復合光源技術,分析性能優越,同時光源具有較好的穩定性、可靠性。高能預燃技術(HEPS)激發參數調整,充分滿足不同基體、不同樣品以及不同分析元素的激發要求。
三、開放式樣品臺,滿足大尺寸樣品的測試要求。變換電極對小樣品及復雜幾何形狀樣品,有較好的分析能力。視頻識別技術,可監測樣品臺的全景,同時確保樣品臺激發安全。
四、智能氬氣流設計及粉塵收集清理裝置,有效消除激發過程中等離子體的飄移,確保CCD檢測器能夠觀測高溫區域光信號,提高精度和穩定性。
五、真空系統完全程控,在保證真空度的同時減少真空泵的運行時間,多級真空隔離措施并增加濾油裝置,保障光學元器件在可靠的環境中工作。
六、使用不銹鋼真空球閥,在清理透鏡時有良好的隔離效果。單板式透鏡設計,拆裝方便,交叉機械裝置,在未解除隔離的情況有效保護光學系統。
七、計算機可與手機(或PAD)同步顯示,方便面板操作,高分辯率CMOS讀出系統及FPGA、DSP和ARM技術,進行數據采集。數據可遠程傳輸,實時方便對儀器運行狀態的監測和控制,也可進行云打印。
八、專用的光譜分析軟件,操作界面人性化,功能標準化。儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質分析方法和先進的解決方案。根據用戶的材料要求,可現場延長標準曲線的測量上、下限。
W5全譜直讀光譜分析儀參數
項目 | 指標 |
檢測基體 | 鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基、錳基、鉻基等13個基體 |
光學系統 | 帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學系統 |
波長范圍 | 165~580nm(可安裝上下限檢測器擴大波長范圍) |
光柵焦距 | 400mm |
探測器 | 高分辯率多CMOS圖像傳感器 |
光源類型 | DDD數字激發光源,高能預燃技術(HEPS) |
放電頻率 | 100-1000Hz |
放電電流 | 大400A |
檢測時間 | 依據樣品類型而定,一般在25s左右 |
電極類型 | 鎢材噴射電極 |
分析間隙 | 樣品臺分析間隙:3.4mm |
真空系統 | 真空軟件自動控制、監測 |
光室恒溫 | 34℃,溫度自動監測 |
氬氣純度 | 99.999% |
氬氣壓力 | 0.5MPa |
工作電源 | AC220V 50/60Hz |
儀器尺寸 | 860*680*438mm |
儀器重量 | 約100kg |